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HALT試驗

HALT是高加速壽命試驗,又稱為可靠性強化試驗(RET),在產(chǎn)品的設計階段,通過系統(tǒng)地施加逐步增大的環(huán)境應力和工作應力,激發(fā)和暴露產(chǎn)品設計中的薄弱環(huán)節(jié),找到產(chǎn)品的工作極限和破壞極限,通過對試驗過程中出現(xiàn)的故障進行定位分析和失效進行機理分析,不斷改進設計和工藝,提升產(chǎn)品耐環(huán)境能力和健壯性,提高產(chǎn)品成熟度和可靠性,縮短產(chǎn)品研發(fā)周期和加快產(chǎn)品上市。

1.HALT測試介紹:

HALT (Highly Accelerated Life Test)高加速壽命試驗---是一種用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的薄弱點或缺陷,通過設計改進,提高可靠性的試驗手段。其核心是采用步進方式,逐漸增大試驗應力,逐步發(fā)現(xiàn)與排除缺陷,達到快速提高可靠性的目的。

2.HALT測試原理:

每個產(chǎn)品都是獨立的,由于各種因素的影響,即使同一型號產(chǎn)品的強度也是有差異的,其強度表現(xiàn)為某種統(tǒng)計分布。同樣產(chǎn)品其承受的應力也是變化的,應力也表現(xiàn)為某種統(tǒng)計分布。在產(chǎn)品強度與應力重疊的部分(圖中陰影部分),即對產(chǎn)品施加的應力超過產(chǎn)品的強度,產(chǎn)品就會發(fā)生故障。

3.HALT測試流程:

測試前期準備工作-低溫步進應力試驗-高溫步進應力試驗-快速溫變循環(huán)試驗-振動步進應力試驗-綜合環(huán)境應力試驗-故障分析-回歸驗證;

試驗前的準備工作以及五個試驗項目的詳細實施方法可參考GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則》進行試驗。HALT試驗對產(chǎn)品施加的應力主要是溫度和振動應力,也可考慮施加濕度等常見環(huán)境應力。除此之外,還要考慮在HALT期間可以向產(chǎn)品施加的所有可能的應力,比如可以考慮通電循環(huán)、電壓變化、頻率變化、電流等可以激發(fā)產(chǎn)品相關設計或工藝問題的應力。

4.HALT測試范圍:

溫度范圍:-100℃~200℃

溫度變化速率:液氮制冷,溫變速率不低于60℃/min

振動:三軸六自由反復沖擊振動,頻率范圍0~10000Hz,最大均方根值可達100g


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