1.靜電放電抗擾度測(cè)試范圍:
靜電放電抗擾度試驗(yàn)(ESD)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為GB/T17626.2(等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2) 。

     靜電放電（ESD)是一種自然現(xiàn)象,靜電放電多發(fā)生于人體接觸半導(dǎo)體器件的時(shí)候,有可能導(dǎo)致數(shù)層半導(dǎo)體材料的擊穿,產(chǎn)生不可挽回的損壞.靜電放電以及緊跟其后的電磁場(chǎng)變化,可能危害電子設(shè)備的正常工作。

2. 靜電放電抗擾度測(cè)試方法:
    GB/T17626.2國(guó)內(nèi)靜電放電標(biāo)準(zhǔn)描述的是在低濕度環(huán)境下,通過(guò)摩擦使人體帶電.帶了電的人體,在與設(shè)備接觸過(guò)程中就可能對(duì)設(shè)備放電.靜電放電抗擾度試驗(yàn)?zāi)M了兩種情況:⑴設(shè)備操作人員直接觸摸設(shè)備時(shí)對(duì)設(shè)備的放電,和放電對(duì)設(shè)備工作的影響;⑵設(shè)備操作人員在觸摸鄰近設(shè)備時(shí),對(duì)所關(guān)心這臺(tái)設(shè)備的影響.
      其中前一種情況稱(chēng)為直接放電(直接對(duì)設(shè)備放電);后一種情況稱(chēng)為間接放電(通過(guò)對(duì)鄰近物體的放電,間接構(gòu)成對(duì)設(shè)備工作的影響).靜電放電可能造成的后果是:
      ⑴通過(guò)直接放電,引起設(shè)備中半導(dǎo)體器件的損壞,從而造成設(shè)備的永久性失效.
      ⑵由放電(可能是直接放電,也可能是間接放電)而引起的近場(chǎng)電磁場(chǎng)變化,造成設(shè)備的誤動(dòng)作.

3. 靜電放電抗擾度標(biāo)準(zhǔn)：

靜電放電抗擾度試驗(yàn)最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001